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光学元件表面瑕疵自动化检测设备 ZER-HM150
产品详情
检测对象:光学元件、光学窗口片、硅片、蓝宝石片等
检测***尺寸:150mmX150mm
检测分辨率:0.5μm
检测方式:暗场面阵扫描成像
输出报表:国标、美军标及企业定制化报表
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杭州晶耐科光电技术有限公司
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