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晶圆缺陷检测方法 晶圆瑕疵解决方案

浏览: 发表时间:2021-09-09 10:33:15

我们生活中用到的电子设备、如手机、电脑、电视都是依赖于各种芯片。而每个芯片的核心是一个圆片,它是从各种圆片上切割下来的。晶圆本身存在良率问题,晶圆表面也可能存在各种缺陷。为了防止有缺陷的晶圆流入后续封装过程,必须使用光学检测设备对晶圆表面缺陷进行识别、分类和标记,并辅助晶圆分拣。那么接下来我们就来说说机器视觉检测晶圆的解决方案。



晶圆表面瑕疵检测

【测量需求】

1.晶圆三维表面形貌

2.晶圆表面缺陷

【检测步骤】

1.固定晶圆样品至FocalStation测量台,并进行机械原点归位;

2.在FS软件中设置扫描参数,开始扫描并等待任务完成;

3.数据预处理,包含校平、光学降噪等;

4.分析与报告;

【晶圆表面缺陷检测优势】

1.设备特点:特殊膜片自动送料机构。

2.检测精度:精度可达微米级。

3.检测效率:检测速度可达每分钟1200个。

4.主要功能:检测长、宽、高、直径、混合、变形、缺料、毛刺、黑点、划痕、污点等

5.适用范围:适用于橡胶圈、螺丝、螺母、汽车配件、手机配件、不锈钢、铝、塑料、磁性材料、五金配件、电子产品等设备的检测。

6.非接触式测量:由于不会损坏观察者或观察者,提高了系统的可靠性。

7.机器视觉解决方案可以节省大量劳动力,大大提高生产效率。

8. 宽光谱响应范围。例如,使用人眼不可见的红外测量可以扩大人眼的可视范围。

9.长期稳定工作:虽然人类很难长时间观察同一物体,但机器视觉可以长时间执行测量、分析和识别任务。

总结 机器视觉检测可以很好的替代人工实现缺陷的检测、提高工作的效率。杭州国辰拥有6年的工作经验,帮助很多企业实现机器替代人工的方案实施。


杭州晶耐科光电技术有限公司

电话:+86-150-6715-4328 曹工         
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