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HM450 大口径光学元件微米级缺陷自动检测

本系列产品采用机器视觉方式，对玻璃、金属表面缺陷实现自动化、高速、高精度检测，可有效解决目视检测效率低、准确性差的难题。适用于手机屏、显示屏、光学元件、微光元件、金属材质产品表面、硅片等的表面缺陷质量管控。


目前该系列产品检测分辨率最高可达0.5um，检测口径最大可达1000mmX600mm；设备可自动报表输出，报表输出格式包括：美军标U.S.Miitary Standard MIL-PRF-13830A/B，国际标准ISO10110-7，国标 GB/T 1185-2006。


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